平场参考方法
- 收集平场参考图像（白色参考图像），每张图像减去该参考图像
- 然后对结果图像进行归一化即可完成简单的校正
- 去除CCD暗电流的影响
回顾性照明校正(Retrospective approaches)
- 伪平场校正
- 减去原始图像的平滑模版来独立校正每个图像中的背景变化。
- 取决于某些假设，这些假设很少适用于高通量实验中的所有图像（假设每个图像中材料的分布在整个视场中大致均匀）。
- 照明校正函数
- 组合多个图像上的信息来估计照明校正函数
基于光学原理
通过对成像过程建模完成显微图像恢复过程
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将成像过程公式化为线性模型
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利用成像系统中的相机响应功能来估计曝光时间和强度之间的关系